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AC-coupled GaAs microstrip detectors with a new type of integrated bias resistors

机译:交流耦合Gaas微带探测器具有新型集成偏置   电阻

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摘要

Full size single-sided GaAs microstrip detectors with integrated couplingcapacitors and bias resistors have been fabricated on 3'' substrate wafers.PECVD deposited SiO_2 and SiO_2/Si_3N_4 layers were used to provide couplingcapacitaces of 32.5 pF/cm and 61.6 pF/cm, respectively. The resistors are madeof sputtered CERMET using simple lift of technique. The sheet resistivity of 78kOhm/sq. and the thermal coefficient of resistance of less than 4x10^-3 /degree C satisfy the demands of small area biasing resistors, working on a widetemperature range.
机译:已在3''衬底晶片上制造了具有集成耦合电容器和偏置电阻器的全尺寸单面GaAs微带检测器.PECVD沉积的SiO_2和SiO_2 / Si_3N_4层分别用于提供32.5 pF / cm和61.6 pF / cm的耦合电容。电阻器由溅射的CERMET制成,使用简单的技术即可完成。薄层电阻率为78kOhm / sq。电阻的热系数小于4x10 ^ -3 /℃,可满足在宽温度范围内工作的小面积偏置电阻的需求。

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